Functional Test Generation for AI Accelerators using Bayesian Optimization∗
Author:
Affiliation:
1. Duke University,Department of Electrical and Computer Engineering,Durham,NC
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10139918/10139926/10139981.pdf?arnumber=10139981
Reference16 articles.
1. Fast Local Algorithms for Large Scale Nonnegative Matrix and Tensor Factorizations
2. Bayesian Optimization: Open source constrained global optimization tool for Python;nogueira,2014
3. Generative adversarial nets;goodfellow;NIPS,2014
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Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Scenario-based Test Content Optimization: Scan Test vs. System-Level Test;2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS);2024-04-22
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