Mitigating Test-Induced Yield-Loss by IR-Drop-Aware X-Filling
Author:
Affiliation:
1. Kyushu Institute of Technology,Iizuka,Japan,820-8502
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10387741/10387791/10387835.pdf?arnumber=10387835
Reference26 articles.
1. A Novel Graph-Coloring-Based Solution for Low-Power Scan Shift
2. Advanced test methodology for complex SoCs
3. Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors
4. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
5. GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting
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