Author:
Acernese F.,Amico P.,Al-Shourbagy M.,Aoudia S.,Avino S.,Babusci D.,Ballardin G.,Barille R.,Barone F.,Barsotti Lisa,Barsuglia M.,Beauville F.,Bizouard M. A.,Boccara C.,Bondu F.,Bosi L.,Bradaschia C.,Braccini S.,Brillet A.,Brisson V.,Brocco L.,Buskulic D.,Calloni E.,Campagna E.,Cavalier F.,Cavalieri R.,Cella G.,Chassande-Mottin E.,Corda C.,Clapson A.-C.,Cleva F.,Coulon J.-P.,Cuoco E.,Dattilo V.,Davier M.,De Rosa R.,Di Fiore L.,Di Virgilio A.,Dujardin B.,Eleuteri A.,Enard D.,Ferrante I.,Fidecaro F.,Fiori I.,Flaminio R.,Fournier J.-D.,Frasca S.,Frasconi F.,Freise A.,Gammaitoni L.,Gennai A.,Giazotto A.,Giordano G.,Giordano L.,Gouaty R.,Grosjean D.,Guidi G.,Hebri S.,Heitmann H.,Hello P.,Holloway L.,Kreckelbergh S.,La Penna P.,Loriette V.,Loupias M.,Losurdo G.,Mackowski J.-M.,Majorana E.,Man C. N.,Mantovani M.,Marchesoni F.,Marion F.,Marque J.,Martelli F.,Masserot A.,Mazzoni M.,Milano L.,Moins C.,Moreau J.,Morgado N.,Mours B.,Pai A.,Palomba C.,Paoletti F.,Pardi S.,Pasqualetti A.,Passaquieti R.,Passuello D.,Perniola B.,Piergiovanni F.,Pinard L.,Poggiani R.,Punturo M.,Puppo P.,Qipiani K.,Rapagnani P.,Reita V.,Remillieux A.,Ricci F.,Ricciardi I.,Ruggi P.,Russo G.,Solimeno S.,Spallicci A.,Stanga R.,Taddei R.,Tombolato D.,Tonelli M.,Toncelli A.,Tournefier E.,Travasso F.,Vajente G.,Verkindt D.,Vetrano F.,Vicere A.,Vinet J.-Y.,Vocca H.,Yvert M.,Zhang Z.
Publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Instrumentation