Self-Aligned in 2Pitch Cell Array Transistor (S2CAT) for 4F2 Based DRAM Generation Extension

Author:

Park Seokhan1,Oh Gyuhwan1,Yoo Bowon1,Jeong Moonyoung1,Lee Kiseok1,Lee Sangho1,Hong Seongbin1,Sung Sang Hyun1,Choi Hyungeun1,Jo Taegeun1,Jang Wonchul1,Park Jaekyun1,Park Sangwuk1,Yun Hyunchul1,Kim Jinbum1,Jang Sunghwan1,Kuh Bong-Jin1,Kim Ilgweon1,Oh Jeonghoon1,Han Jin-Woo1,Park Jemin1

Affiliation:

1. Samsung Electronics Co.,Semiconductor R&D Center,Hwaseong-si,Korea,18448

Publisher

IEEE

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. My Journey with Semiconductors;Engineering;2024-09

2. Effect of Back Gate on Word Line Disturb Immunity of a Vertical Channel DRAM Cell Array Transistor;2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS);2024-04-14

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