STEM image simulation by Bloch-wave method with layer-by-layer representation-Reference-Cited by-同舟云学术

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STEM image simulation by Bloch-wave method with layer-by-layer representation

Published:2010-06-23 Issue:S1 Volume:59 Page:S23-S28
ISSN:0022-0744
Container-title:Journal of Electron Microscopy
language:en
Short-container-title:Journal of Electron Microscopy

Author:

Morimura T.

Publisher

Oxford University Press (OUP)

Subject

Instrumentation

Link

http://academic.oup.com/jmicro/article-pdf/59/S1/S23/5853295/dfq028.pdf

Reference21 articles.

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Notes and References;Principles of Electron Optics, Volume 4;2022

2. Decay of high-energy electron bound states in crystals;Ultramicroscopy;2019-01

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