1. 1. A. Vaglio Pret, R. Gronheid, T. R. Younkin, G. Winroth, J. J. Biafore, Y. Anno, K. Hoshiko, and V. Constantoudis, Proc. SPIE., 8679 (2013) 86792O.
2. 2. P. De Bisschop, J. Van de Kerkhove, J. Mailfert, A. Vaglio Pret, and J. Biafore, Proc. SPIE., 9048 (2014) 904809.
3. 3. S.-M. Kim, C.-M. Lim, M.-R. Jung, Y.-S. Kim, W.-T. Kwon, C.-N. Ahn, K.-T. Sun, A. Fumar-Pici, and A. C. Chen, Proc. SPIE., 9422 (2015) 94220M.
4. 4. N. Mojarad, M. Hojeij, L. Wang, J. Gobrecht, and Y. Ekinci, Nanoscale, 7 (2015) 4031.
5. 5. M. Trikeriotis, M. Krysaki, Y. S. Chung, C. Ouyang, B. Cardineau, R. Brainard, C. K. Ober, E. P. Giannelis, and K. Cho, J. Photopolym. Sci. Technol. 25 (2012) 583.