Author:
Kumazawa R.,Mutoh T.,Seki T.,Watari T.,Saito K.,Torii Y.,Shimpo F.,Nomura G.,Yokota M.,Kato A.,Hartmann D. A.,Zhao Y.,Fukuyama A.,Okada H.,Ohkubo K.,Sato M.,Kubo S.,Shimozuma T.,Idei H.,Yoshimura Y.,Notake T.,Takita Y.,Kobayashi S.,Itoh S.,Mizuno Y.,Kaneko O.,Takeiri Y.,Oka Y.,Tsumori K.,Osakabe M.,Ikeda K.,Yamamoto S.,Kawamoto T.,Asano E.,Ohyabu N.,Kawahata K.,Komori A.,Yamada H.,Akaishi K.,Ashikawa N.,Emoto M.,Funaba H.,Goto M.,Ida K.,Inagaki S.,Inoue N.,Isobe M.,Krasilnikov A.,Masuzaki S.,Minami T.,Miyazawa J.,Morisaki T.,Morita S.,Murakami S.,Muto S.,Nakamura Y.,Nagayama Y.,Nakanishi H.,Narihara K.,Narushima Y.,Nishimura K.,Noda N.,Kobuchi T.,Ohdachi S.,Ozaki T.,Peterson B. J.,Sagara A.,Sakakibara S.,Sakamoto R.,Sasao H.,Sasao M.,Sato K.,Shoji M.,Suzuki H.,Tanaka K.,Toi K.,Tokuzawa T.,Yamada I.,Yamaguchi S.,Yokoyama M.,Watanabe K-Y.,Watanabe T.,Matsuoka K.,Itoh K.,Sudo S.,Yamazaki K.,Hamada Y.,Motojima O.,Fujiwara M.,