Low temperature and high magnetic field spectroscopic ellipsometry system
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Publisher
AIP Publishing
Subject
Instrumentation
Link
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.4872355
Reference32 articles.
1. Polarized Light, Revised and Expanded
2. Handbook of Ellipsometry
3. Magneto-optical response of layers of semiconductor quantum dots and nanorings
4. Optical response of layers of embedded semiconductor quantum dots
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1. Characterization of Packaging, Electronic, and Photonic Materials at Cryogenic Temperatures Using a Multi-Angle Backscattering Mueller-Matrix Ellipsometer;2023 IEEE 73rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC);2023-05
2. GaAs Polariton Interference in Magnetic Field: Oblique Incident Ellipsometry Measurement;Journal of the Physical Society of Japan;2014-11-15
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