Quantitative AES and XPS: Tests of Theory Using AES and XPS Databases with REELS Background Subtraction

Author:

Seah M. P.1,Gilmore I. S.1,Spencer S. J.1

Affiliation:

1. National Physical Laboratory

Publisher

Surface Analysis Society of Japan

Subject

General Medicine

Reference30 articles.

1. [1] M. P. Seah and D. Briggs, in Practical Surface Analysis, Vol.1 - Auger and X-ray Phtotoelectron Spectroscopy, Eds., D Briggs and M P Seah, Wiley, Chichester (1990) p 1-18.

2. [2] M. P. Seah and I. S. Gilmore, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 1401 (1996).

3. [3] M. P. Seah, I. S. Gilmore, and S. J. Spencer, J. Electron Spectrosc. 120, 93 (2001).

4. [4] M. P. Seah and G. C. Smith, Surf. Interface Anal. 17, 855 (1991).

5. [5] M. P. Seah, Surf. Interface Anal. 20, 243 (1993).

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