Signalverarbeitung bei tiefen-scannenden 3D-Sensoren für neue industrielle Anwendungen (Analysis of Signals from Depth-Scanning 3D-Sensors for Novel Industrial Applications)

Abstract

Viele moderne, erfolgversprechende Verfahren zur Bestimmung der 3D-Gestalt eines Objektes basieren auf einem tiefen-scannenden Ansatz. Hierbei kommt der Signalverarbeitung eine besondere Rolle zu. Zum einen werden sehr effiziente Algorithmen benötigt, da die Datenmenge i.A. sehr hoch ist. Zum anderen soll der Algorithmus robust und genau sein, um die Vorteile der Durchfokussierung auch nutzen zu können. Am Beispiel der Weißlichtinterferometrie (WLI) und der tiefen-scannenden Streifenprojektion (DSFP) wird gezeigt, wie ein generalisierter Ansatz zur Auswertung entsprechender Datensätze gewonnen und in die Praxis umgesetzt werden kann. Die Vorteile dieses Ansatzes – auch bei Störgrößen – werden detailliert dargestellt.