Author:
Abe K.,Hayato Y.,Iida T.,Ishihara K.,Kameda J.,Koshio Y.,Minamino A.,Mitsuda C.,Miura M.,Moriyama S.,Nakahata M.,Obayashi Y.,Ogawa H.,Shiozawa M.,Suzuki Y.,Takeda A.,Takeuchi Y.,Ueshima K.,Higuchi I.,Ishihara C.,Ishitsuka M.,Kajita T.,Kaneyuki K.,Mitsuka G.,Nakayama S.,Nishino H.,Okumura K.,Saji C.,Takenaga Y.,Totsuka Y.,Clark S.,Desai S.,Dufour F.,Kearns E.,Likhoded S.,Litos M.,Raaf J. L.,Stone J. L.,Sulak L. R.,Wang W.,Goldhaber M.,Casper D.,Cravens J. P.,Kropp W. R.,Liu D. W.,Mine S.,Regis C.,Smy M. B.,Sobel H. W.,Vagins M. R.,Ganezer K. S.,Hill J. E.,Keig W. E.,Jang J. S.,Kim J. Y.,Lim I. T.,Scholberg K.,Tanimoto N.,Walter C. W.,Wendell R.,Ellsworth R. W.,Tasaka S.,Guillian E.,Learned J. G.,Matsuno S.,Messier M. D.,Ichikawa A. K.,Ishida T.,Ishii T.,Iwashita T.,Kobayashi T.,Nakadaira T.,Nakamura K.,Nitta K.,Oyama Y.,Suzuki A. T.,Hasegawa M.,Kato I.,Maesaka H.,Nakaya T.,Nishikawa K.,Sasaki T.,Sato H.,Yamamoto S.,Yokoyama M.,Haines T. J.,Dazeley S.,Hatakeyama S.,Svoboda R.,Sullivan G. W.,Habig A.,Gran R.,Fukuda Y.,Sato T.,Itow Y.,Koike T.,Jung C. K.,Kato T.,Kobayashi K.,Malek M.,McGrew C.,Sarrat A.,Terri R.,Yanagisawa C.,Tamura N.,Sakuda M.,Sugihara M.,Kuno Y.,Yoshida M.,Kim S. B.,Yoo J.,Ishizuka T.,Okazawa H.,Choi Y.,Seo H. K.,Gando Y.,Hasegawa T.,Inoue K.,Ishii H.,Nishijima K.,Ishino H.,Watanabe Y.,Koshiba M.,Kielczewska D.,Zalipska J.,Berns H. G.,Shiraishi K. K.,Washburn K.,Wilkes R. J.