Underlying event measurements in p+p collisions at s=200 GeV at RHIC-Reference-Cited by-同舟云学术

Underlying event measurements in p+p collisions at s=200 GeV at RHIC

Published:2020-03-10 Issue:5 Volume:101 Page:
ISSN:2470-0010
Container-title:Physical Review D
language:en
Short-container-title:Phys. Rev. D

Author:

Adam J.,Adamczyk L.,Adams J. R.,Adkins J. K.,Agakishiev G.,Aggarwal M. M.,Ahammed Z.,Alekseev I.,Anderson D. M.,Aparin A.,Aschenauer E. C.,Ashraf M. U.,Atetalla F. G.,Attri A.,Averichev G. S.,Bairathi V.,Barish K.,Behera A.,Bellwied R.,Bhasin A.,Bielcik J.,Bielcikova J.,Bland L. C.,Bordyuzhin I. G.,Brandenburg J. D.,Brandin A. V.,Butterworth J.,Caines H.^ORCID,Calderón de la Barca Sánchez M.,Cebra D.,Chakaberia I.,Chaloupka P.,Chan B. K.,Chang F-H.,Chang Z.,Chankova-Bunzarova N.,Chatterjee A.,Chen D.,Chen J. H.,Chen X.,Chen Z.,Cheng J.,Cherney M.,Chevalier M.,Choudhury S.,Christie W.,Crawford H. J.,Csanád M.,Daugherity M.,Dedovich T. G.,Deppner I. M.,Derevschikov A. A.,Didenko L.,Dong X.,Drachenberg J. L.,Dunlop J. C.,Edmonds T.,Elsey N.,Engelage J.,Eppley G.,Esha R.,Esumi S.,Evdokimov O.,Ewigleben A.,Eyser O.,Fatemi R.,Fazio S.,Federic P.,Fedorisin J.,Feng C. J.,Feng Y.,Filip P.,Finch E.,Fisyak Y.,Francisco A.,Fulek L.,Gagliardi C. A.,Galatyuk T.,Geurts F.,Gibson A.,Gopal K.,Grosnick D.,Guryn W.,Hamad A. I.,Hamed A.,Harris J. W.,He S.,He W.,He X.,Heppelmann S.,Heppelmann S.,Herrmann N.,Hoffman E.,Holub L.,Hong Y.,Horvat S.,Hu Y.,Huang H. Z.,Huang S. L.,Huang T.,Huang X.,Humanic T. J.,Huo P.,Igo G.,Isenhower D.,Jacobs W. W.,Jena C.,Jentsch A.,JI Y.,Jia J.,Jiang K.,Jowzaee S.,Ju X.,Judd E. G.,Kabana S.,Kabir M. L.,Kagamaster S.,Kalinkin D.,Kang K.,Kapukchyan D.,Kauder K.,Ke H. W.,Keane D.,Kechechyan A.,Kelsey M.,Khyzhniak Y. V.,Kikoła D. P.,Kim C.,Kimelman B.,Kincses D.,Kinghorn T. A.,Kisel I.,Kiselev A.,Kisiel A.,Kocan M.,Kochenda L.,Kosarzewski L. K.,Kramarik L.,Kravtsov P.,Krueger K.,Kulathunga Mudiyanselage N.,Kumar L.,Kunnawalkam Elayavalli R.,Kwasizur J. H.,Lacey R.,Lan S.,Landgraf J. M.,Lauret J.,Lebedev A.,Lednicky R.,Lee J. H.,Leung Y. H.,Li C.,Li W.,Li W.,Li X.,Li Y.,Liang Y.,Licenik R.,Lin T.,Lin Y.,Lisa M. A.,Liu F.,Liu H.,Liu P.,Liu P.,Liu T.,Liu X.,Liu Y.,Liu Z.,Ljubicic T.,Llope W. J.,Longacre R. S.,Lukow N. S.,Luo S.,Luo X.,Ma G. L.,Ma L.,Ma R.,Ma Y. G.,Magdy N.,Majka R.,Mallick D.,Margetis S.,Markert C.,Matis H. S.,Mazer J. A.,Minaev N. G.,Mioduszewski S.,Mohanty B.,Mooney I.,Moravcova Z.,Morozov D. A.,Nagy M.,Nam J. D.,Nasim Md.,Nayak K.,Neff D.,Nelson J. M.,Nemes D. B.,Nie M.,Nigmatkulov G.,Niida T.,Nogach L. V.,Nonaka T.,Odyniec G.,Ogawa A.,Oh S.,Okorokov V. A.,Page B. S.,Pak R.,Pandav A.,Panebratsev Y.,Pawlik B.,Pawlowska D.,Pei H.,Perkins C.,Pinsky L.,Pintér R. L.,Pluta J.,Porter J.,Posik M.,Pruthi N. K.,Przybycien M.,Putschke J.,Qiu H.,Quintero A.,Radhakrishnan S. K.,Ramachandran S.,Ray R. L.,Reed R.,Ritter H. G.,Roberts J. B.,Rogachevskiy O. V.,Romero J. L.,Ruan L.,Rusnak J.,Sahoo N. R.,Sako H.,Salur S.,Sandweiss J.,Sato S.,Schmidke W. B.,Schmitz N.,Schweid B. R.,Seck F.,Seger J.,Sergeeva M.,Seto R.,Seyboth P.,Shah N.,Shahaliev E.,Shanmuganathan P. V.,Shao M.,Shen F.,Shen W. Q.,Shi S. S.,Shou Q. Y.,Sichtermann E. P.,Sikora R.,Simko M.,Singh J.,Singha S.,Smirnov N.,Solyst W.,Sorensen P.,Spinka H. M.,Srivastava B.,Stanislaus T. D. S.,Stefaniak M.,Stewart D. J.,Strikhanov M.,Stringfellow B.,Suaide A. A. P.,Sumbera M.,Summa B.,Sun X. M.,Sun Y.,Sun Y.,Surrow B.,Svirida D. N.,Szymanski P.,Tang A. H.,Tang Z.,Taranenko A.,Tarnowsky T.,Thomas J. H.,Timmins A. R.,Tlusty D.,Tokarev M.,Tomkiel C. A.,Trentalange S.,Tribble R. E.,Tribedy P.,Tripathy S. K.,Tsai O. D.,Tu Z.,Ullrich T.,Underwood D. G.,Upsal I.,Van Buren G.,Vanek J.,Vasiliev A. N.,Vassiliev I.,Videbæk F.,Vokal S.,Voloshin S. A.,Wang F.,Wang G.,Wang J. S.,Wang P.,Wang Y.,Wang Y.,Wang Z.,Webb J. C.,Weidenkaff P. C.,Wen L.,Westfall G. D.,Wieman H.,Wissink S. W.,Witt R.,Wu Y.,Xiao Z. G.,Xie G.,Xie W.,Xu H.,Xu N.,Xu Q. H.,Xu Y. F.,Xu Y.,Xu Z.,Xu Z.,Yang C.,Yang Q.,Yang S.,Yang Y.,Yang Z.,Ye Z.,Ye Z.,Yi L.,Yip K.,Zbroszczyk H.,Zha W.,Zhang D.,Zhang S.,Zhang S.,Zhang X. P.,Zhang Y.,Zhang Y.,Zhang Z. J.,Zhang Z.,Zhao J.,Zhong C.,Zhou C.,Zhu X.,Zhu Z.,Zurek M.,Zyzak M.,

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