Author:
Thomas J. W.,Touchman J. W.,Blakesley R. W.,Bouffard G. G.,Beckstrom-Sternberg S. M.,Margulies E. H.,Blanchette M.,Siepel A. C.,Thomas P. J.,McDowell J. C.,Maskeri B.,Hansen N. F.,Schwartz M. S.,Weber R. J.,Kent W. J.,Karolchik D.,Bruen T. C.,Bevan R.,Cutler D. J.,Schwartz S.,Elnitski L.,Idol J. R.,Prasad A. B.,Lee-Lin S.-Q.,Maduro V. V. B.,Summers T. J.,Portnoy M. E.,Dietrich N. L.,Akhter N.,Ayele K.,Benjamin B.,Cariaga K.,Brinkley C. P.,Brooks S. Y.,Granite S.,Guan X.,Gupta J.,Haghighi P.,Ho S.-L.,Huang M. C.,Karlins E.,Laric P. L.,Legaspi R.,Lim M. J.,Maduro Q. L.,Masiello C. A.,Mastrian S. D.,McCloskey J. C.,Pearson R.,Stantripop S.,Tiongson E. E.,Tran J. T.,Tsurgeon C.,Vogt J. L.,Walker M. A.,Wetherby K. D.,Wiggins L. S.,Young A. C.,Zhang L.-H.,Osoegawa K.,Zhu B.,Zhao B.,Shu C. L.,De Jong P. J.,Lawrence C. E.,Smit A. F.,Chakravarti A.,Haussler D.,Green P.,Miller W.,Green E. D.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC