Author:
Wiersema K.,Covino S.,Toma K.,van der Horst A. J.,Varela K.,Min M.,Greiner J.,Starling R. L. C.,Tanvir N. R.,Wijers R. A. M. J.,Campana S.,Curran P. A.,Fan Y.,Fynbo J. P. U.,Gorosabel J.,Gomboc A.,Götz D.,Hjorth J.,Jin Z. P.,Kobayashi S.,Kouveliotou C.,Mundell C.,O’Brien P. T.,Pian E.,Rowlinson A.,Russell D. M.,Salvaterra R.,di Serego Alighieri S.,Tagliaferri G.,Vergani S. D.,Elliott J.,Fariña C.,Hartoog O. E.,Karjalainen R.,Klose S.,Knust F.,Levan A. J.,Schady P.,Sudilovsky V.,Willingale R.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC