Application of Fragment Ion Information as Further Evidence in Probabilistic Compound Screening Using Bayesian Statistics and Machine Learning: A Leap Toward Automation

Author:

Woldegebriel Michael1,Zomer Paul2,Mol Hans G. J.2,Vivó-Truyols Gabriel1

Affiliation:

1. Analytical Chemistry, Van’t Hoff Institute for Molecular Sciences, University of Amsterdam P.O. Box 94720, 1090 GE Amsterdam, The Netherlands

2. RIKILT Wageningen UR, P.O. Box 230, 6700 AE Wageningen, The Netherlands

Funder

Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

Analytical Chemistry

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