Affiliation:
1. Corporación Mexicana de Investigación en Materiales, México
2. Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S.C., México
Abstract
Resumen La Microscopía de Fuerza Atómica (MFA), técnica de caracterización que genera imágenes topográficas de superficies a muy altas resoluciones, opera registrando los detalles de relieve superficial del material con un cantiléver que se mueve sobre la muestra, mientras un detector piezoeléctrico monitorea los cambios de altura. Ésta técnica, adquiere relevancia en el campo de la identificación de fases, partículas y precipitados a niveles de nanoescala por lo que se propone para su identificación en la zona de fusión de componentes soldados y para la identificación temprana de fallas por agrietamiento. Es una técnica que no requiere de muestras conductoras, o la especial preparación metalográfica de probetas como es el caso de la microscopia electrónica. El material de estudio es un acero inoxidable dúplex 2205, unido por arco metálico y electrodo de tungsteno (GTAW). Al material soldado se le practicó ensayo de tensión. Las probetas fueron caracterizadas mediante microscopia óptica, microscopía electrónica de barrido, microscopía de fuerza atómica y pruebas de nanoindentación. Los resultados se concentran en la identificación de las características magnéticas, topográficas y dureza específicos de cada una de las fases, partículas y regiones presentes en el metal base, zona de fusión y la zona deformada por la fractura.
Subject
Metals and Alloys,Mechanical Engineering,Mechanics of Materials
Reference34 articles.
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Cited by
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