Extreme Temperature 6H-SiC JFET Integrated Circuit Technology

Author:

Neudeck Philip G.,Garverick Steven L.,Spry David J.,Chen Liang-Yu,Beheim Glenn M.,Krasowski Michael J.,Mehregany Mehran

Publisher

Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA

Reference59 articles.

1. High-temperature electronics - a role for wide bandgap semiconductors?

2. An overview of high-temperature electronic device technologies and potential applications

3. S. P. Rountree S. Berjaoui A. Tamporello B. Vincent T. Wiley Proc. 5th International High Temperature Electronics Conference 2000 I.P2.1

4. Honeywell Solid State Electronics Center http://www.ssec.honeywell.com

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. System Integration;Silicon Carbide Microsystems for Harsh Environments;2011

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