Author:
Jin Kim Yu,Hyuk Park Min,Joon Kim Han,Seok Jeong Doo,Jiang Anquan,Seong Hwang Cheol,Schmelzer Sebastian,Böttger Ulrich,Waser Rainer,Liu X.,Lu H.,Burton J. D.,Wang Y.,Bark C. W.,Zhang Y.,Kim D. J.,Stamm A.,Lukashev P.,Felker D. A.,Folkman C. M.,Gao P.,Rzchowski M. S.,Pan X. Q.,Eom C. B.,Gruverman A.,Tsymbal E. Y.,Politova E. D.,Kaleva G. M.,Mosunov A. V.,Sadovskaya N. V.,Segalla A. G.,Mandal Dipankar,Henkel Karsten,Das Suken,Schmeißer Dieter,Abdel Halim K. S.,Khedr M. H.,Farghali A. A.,Nasr M. I.,Soliman N. K.,Onbasli Mehmet,Goto T.,Kim D. H.,Bi L.,Dionne G. F.,Ross C. A.,Schneller Theodor,Goodwin Simon,Waser Rainer,Di Quarto Francesco,Di Franco Francesco,Santamaria Monica,Yuan Hongtao,Ishida Y.,Koizumi K.,Shimotani H.,Kanai K.,Akaike K.,Kubozono Y.,Tsukazaki A.,Kawasaki M.,Shin S.,Iwasa Y.,De Souza Roger A.,Metlenko Veronika,Schraknepper Henning,Ramadan Amr,Grope B. O. H.,Grieshammer S.,Koettgen J.,Martin M.,Shibuya Taizo,Yasuoka Kenji,Mirbt Susanne,Sanyal Biplab,Aoki Yoshitaka,Martin Manfred,Merkle R.,Shirpour M.,Rahmati B.,Sigle W.,van Aken P. A.,Maier J.,Sobolev N. A.,Azevedo A. M.,Bazarov V. V.,Zhiteytsev E. R.,Khaibullin R. I.,Griesche David,Schneller Theodor,Waser Rainer,Otsuka Yusuke,Pithan Christian,Dornseiffer Jürgen,Waser Rainer,Lustfeld H.,Pithan C.,Reißel M.
Publisher
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA