Korngrößenanalyse feiner Teilchen, eine kritische Betrachtung der Methoden

Abstract

AbstractNur wenige Verfahren eignen sich für die Kornanalyse feiner Teilchen. Jedes Verfahren ist in einem begrenzten Korngrößenbereich anwendbar. Unterhalb von 1 μm lassen sich die Teilchendurchmesser nach dem heutigen Wissensstand mittels Elektronenmikroskopie oder Zentrifugalsedimentation ermitteln. Die Streulichtverfahren und das Coulter‐Verfahren erlauben ebenfalls Messungen unter 1 μm bis etwa 0,5 μm. Es werden Fehlermöglichkeiten und Anwendungsgrenzen der Siebung, Sedimentation im Schwere‐ sowie Zentrifugalfeld, Zählverfahren und Trennverfahren diskutiert.