Über Voltaspannungen von Oxid‐ und Sauerstoffchemisorptions‐Schichten auf Silber

Author:

Göhr H.,Reinhard H.

Abstract

AbstractAn Silber mit O‐Chemisorptions‐[(Ag)xO‐], Ag2O‐ und AgO‐Bedeckung werden die Voltaspannungen gegen cine Pt‐Bezugsoberfläche (B) nach der Kondensatormethode [2,3,4] gemessen. Die stationären Endwerte equation image sind spezifisch von der Natur der Ag‐Oberflächenschicht, nicht aber von der Art ihrer Herstellung abhängig. Sie sind um gekehrt abgestuft wie die entsprechenden gemessenen RuheBezugsspannungen in 1 n KOH equation image Aus dem ersten Wert UH,r = 0,06 Volt wird ferner die differentielle Bildungsaffinität einer O‐Chemisorptionsschicht auf Ag bei praktisch vollständiger O‐Bedeckung abgeschätzt zu etwa 17 kcal je Mol O. Während der nichtstationären ‐ durch Spuren von H2O katalytisch beschleunigten ‐ Bildung von O‐Chemisorptions‐ und Ag2O‐Schichten auf Ag durch O2‐Gas ändert sich die Voltaspannung meist logarithmisch mit der Einwirkungsdauer des O2.Ag2O‐ und Ago‐Schichten bleiben interessanterweise auch nach stundenlangem Erhitzen bis auf 400°C, trotz hoher Zersetzungsaffinitäten besonders des Ago, teilweise erhalten.

Publisher

Wiley

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