Generalized Analysis Approach of the Profile Roughness by Electron Microscopy with the Example of Hierarchically Grown Polystyrene–Iron Oxide–Silica Core–Shell–Shell Particles

Author:

Hülagü Deniz1ORCID,Tobias Charlie2ORCID,Climent Estela2ORCID,Gojani Ardian2ORCID,Rurack Knut2ORCID,Hodoroaba Vasile-Dan1ORCID

Affiliation:

1. Division 6.1 Surface Analysis and Interfacial Chemistry Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) Unter den Eichen 44-46 12203 Berlin Germany

2. Division 1.9 Chemical and Optical Sensing Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) Richard-Willstätter-Straße 11 12489 Berlin Germany

Publisher

Wiley

Subject

Condensed Matter Physics,General Materials Science

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