1. Astles, P. C.; Harper, M. F.; Harris, N. V.; McLay, I. M.; Walsh, R. J. A.; Lewis, R. A.; Smith, C.; Porter, B.; McCarthy, C. PCT Int Appl 1995, WO 95/13262 A1, 191 pp.
2. Barth, F.; Casellas, P.; Congy, C.; Martinez, S.; Rinaldi, M.; Anne-Archard, G. U.S. Pat Appl, 1997, US 5624941 A, 45 pp.
3. Ghosh, S.; Elder, A. M.; Carson, K. G.; Sprott, K.; Harrison, S. PCT Int Appl, 2004, WO 2004/032848 A2, 257 pp.
4. Goodfellow, V.; Rowbottom, M.; Dyck, B. P.; Tamiya, J.; Zhang, M.; Grey, J.; Vickers, T.; Kiankarimi, M.; Wade, W.; Hudson, S. C. PCT Int Appl, 2004, WO 2004/080411 A2, 86 pp.
5. Makings, L. R.; Grootenhuis, P.; Hurley, D. J.; Tung, R. D.; Termin, A. P. PCT Int Appl, 2004, WO 2004/108133 A2, 79 pp.