Chemische Analyse von anorganischen und organischen Oberflächen und von dünnen Schichten mit der statischen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)-Reference-Cited by-同舟云学术

Chemische Analyse von anorganischen und organischen Oberflächen und von dünnen Schichten mit der statischen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)

Published:1994-05-18 Issue:10 Volume:106 Page:1075-1096
ISSN:0044-8249
Container-title:Angewandte Chemie
language:de
Short-container-title:Angew. Chem.

Author:

Benninghoven Alfred

Publisher

Wiley

Subject

General Medicine

Reference58 articles.

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5. Versatile Micropatterns of N-Heterocyclic Carbenes on Gold Surfaces: Increased Thermal and Pattern Stability with Enhanced Conductivity;Angewandte Chemie International Edition;2018-07-26