1. [1] K. Usuda, T. Numata, and S. Takagi, Mater. Sci. Semicond. Process. 8, 155 (2005).
2. [2] N. Nakanishi, H. Arie, Y. Kunimune, T. Ide, Y. Hirose, N. Hattori, and T. Koyama, J. Appl. Phys. 112, 043518 (2012).
3. [3] A. Béché, J. L. Rouvière, J. P. Barnes, and D. Cooper, Ultramicroscopy 111, 227 (2011).
4. [4] Y. Tanaka, Y. Uozaki, K. Nozaki, K. Ito, K. Yamasaki, H. Terauchi, I. Takahashi, K. Tahara, and T. Ishikawa, J. Phys.: Conf. Series 278, 012018 (2011).
5. [5] G. Lulli, M. Bianconi, A. Parisini, S. Sama, and M. Servidori, J. Appl. Phys. 88, 3993 (2000).