Thermal conductivity measurement at the micrometer scales
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Publisher
Elsevier
Reference15 articles.
1. Thermal Conductivity of Individual Silicon Nanowires;Li;Appl. Phys. Lett.,2003
2. The Scaling Effect on the Thermal Processes at Mini/Microscale;Liang;Heat. Transf. Eng.,2006
3. Macroscale and Microscale Thermal Transport and Thermo-Mechanical Interactions: Some Noteworthy Perspectives;Tamma;J. Therm. Stresses,1998
4. Khurana, N.; Chiang, C.L. Analysis of Product Hot Electron Problems by Gated Emission Microscopy. In Reliability Physics Symposium, 1986. 24th Annual, April 1986; pp 189–194.
5. Short-Time-Scale Thermal Mapping of Microdevices Using a Scanning Thermoreflectance Technique;Ju;ASME J. Heat. Transf.,1998
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