On-Wafer Measurement of Gigahertz Integrated Circuits-Reference-Cited by-同舟云学术

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On-Wafer Measurement of Gigahertz Integrated Circuits

Published:1985 Issue: Volume: Page:265-287
ISSN:0736-7031
Container-title:GaAs Microelectronics
language:
Short-container-title:

Author:

STRID E.W.,GLEASON K.R.,REEDER T.M.

Publisher

Elsevier

Reference21 articles.

1. T. Nakamura et al., Dig. Tech. Pap. Int. Solid State Circuits Conf. pp. 152–153 (1984).

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1. Traceability for on-wafer s-parameter measurements;IEE Proceedings A Science, Measurement and Technology;1992

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