Microwave noise modeling of FinFETs

Author:

Crupi Giovanni,Caddemi Alina,Schreurs Dominique M.M.-P.,Wiatr Wojciech,Mercha Abdelkarim

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference30 articles.

1. Accuracy improvements in microwave noise-parameter measurements;Davidson;IEEE Trans Microw Theory Tech,1989

2. A vector approach for noise parameter fitting and selection of source admittance;O’Callaghan;IEEE Trans Microw Theory Tech,1991

3. Accuracy improvements in two port noise parameter extraction method;Boudiaf;IEEE MTT-S Int Microw Symp Dig,1992

4. A new method for on wafer noise measurement;Dambrine;IEEE Trans Microw Theory Tech,1993

5. Transistor noise parameter extraction using a 50-Ω measurement system;Tasker;IEEE MTT-S Int Microw Symp Dig,1993

Cited by 26 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

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