Author:
Akerib D.S.,Bai X.,Bedikian S.,Bernard E.,Bernstein A.,Bradley A.,Cahn S.B.,Carmona-Benitez M.C.,Carr D.,Chapman J.J.,Clark K.,Classen T.,Coffey T.,Dazeley S.,de Viveiros L.,Dobi A.,Dragowsky M.,Druszkiewicz E.,Faham C.H.,Fiorucci S.,Gaitskell R.J.,Gibson K.R.,Hall C.,Hanhardt M.,Holbrook B.,Ihm M.,Jacobsen R.G.,Kastens L.,Kazkaz K.,Lander R.,Larsen N.,Lee C.,Leonard D.,Lesko K.,Lyashenko A.,Malling D.C.,Mannino R.,McKinsey D.N.,Mei D.-M.,Mock J.,Morii M.,Nelson H.,Nikkel J.A.,Pangilinan M.,Parker P.D.,Phelps P.,Shutt T.,Skulski W.,Sorensen P.,Spaans J.,Stiegler T.,Svoboda R.,Sweany M.,Szydagis M.,Thomson J.,Tripathi M.,Verbus J.R.,Walsh N.,Webb R.,White J.T.,Wlasenko M.,Wolfs F.L.H.,Woods M.,Zhang C.
Subject
Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics