Growth and annealing effect on the Cu thin film deposited on Si (0 0 1) surface

Author:

Mes-adi H.,Saadouni K.,Badawi M.,Mazroui M.,Lebègue S.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Inorganic Chemistry,Condensed Matter Physics

Reference59 articles.

1. Copper: Emerging material for wire bond assembly;Ellis;Solid State Technol.,2000

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