Determination of thicknesses and interface roughnesses of GaAs-based and InAs/AlSb-based heterostructures by X-ray reflectometry

Author:

Durand O.,Berger V.,Bisaro R.,Bouchier A.,De Rossi A.,Marcadet X.,Prévot I.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Mechanical Engineering,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics,General Materials Science

Reference8 articles.

1. X-ray and optical characterization of multilayer AlGaAs waveguides

2. Prévot I, Marcadet X, Durand O, Julien FH. E-MRS 2000 spring meeting. Proceeding of Symposium G on Optoelectronics I: Materials and Technologies for Optoelectronic Devices, Strasbourg, France, May 30–June 2 2000, and references therein.

3. Metallic multilayers for x rays using classical thin-film theory

4. Interferenz von Röntgenstrahlen an dünnen Schichten

5. Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry

Cited by 13 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

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