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Peltier cooling for the reduction of carbon contamination in scanning electron microscopy

  • Published:2023-09 Issue: Volume:172 Page:103499
  • ISSN:0968-4328
  • Container-title:Micron
  • language:en
  • Short-container-title:Micron

Author:

San Gabriel Mia,Yu Dian,Mekuz Iliya,Kumral Boran,Nikbin Ehsan,Filleter Tobin,Howe Jane Y.

Funder

Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada

Canada Foundation for Innovation

Publisher

Elsevier BV

Subject

Cell Biology,Structural Biology,General Physics and Astronomy,General Materials Science

Reference32 articles.

1. Characterization of focused electron beam induced carbon deposits from organic precursors;Bret;Microelectron. Eng.,2005

2. Importance of carbon contamination in high-resolution (FEG) EPMA of silicate minerals;Buse;Microsc. Microanal.,2015

3. Decontamination in the electron probe microanalysis with a peltier-cooled cold finger;Buse;Microsc. Microanal.,2016

4. Calculation of thermal noise in atomic force microscopy;Butt;Nanotechnology,1995

5. Sur la contamination des échantillons dans le microanalyseur à sonde électronique;Castaing;C. R. Acad. Sci.,1954

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

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