Advanced scanning transmission stereo electron microscopy of structural and functional engineering materials

Author:

Agudo Jácome L.,Eggeler G.,Dlouhý A.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference40 articles.

1. Ueber ein Universal-Elektronenmikroskop fuer Hellfeld-, Dunkelfeld- und Stereobild-Betrieb;von Ardenne;Zeitschrift fur Physik,1940

2. Electron Microscopy of Thin Crystals;Hirsch,1965

3. O. Vingsbo, A stereo method for specimen thickness determination in transmission electron microscopy, in: P. Favard (Ed.), Proceedings of the 7th International Congress on Electron Microscopy, Société Française de Microscopie Électronique, Paris, 1970, pp. 325–326.

4. Einführung in die Elektronenmikroskopie;von Heimendahl,1970

5. Specimen thickness determination in TEM in the general case;von Heimendahl;Micron,1973

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