1. Der Einfluss von Strom- und Spannungsschwankungen, sowie der Energiebreite der Strahlelektronen auf Kontrastübertragung und Auflösung des Elektronenmikroskops;Hanßen;Optik,1971
2. The envelope of electron microscopic transfer functions for partially coherent illumination;Frank;Optik,1973
3. Electron microscope transfer functions for partially coherent axial illumination and chromatic defocus spread;Wade;Optik,1977
4. High Resolution Electron Microscopy;Spence,2013
5. Fourier optics of image formation in LEEM;Pang;J. Phys.: Condens. Matter,2009