High temperature probe for measuring dielectric parameters
Author:
Affiliation:
1. Université de Limoges, CNRS, XLIM, UMR,France,7252
2. ITheMM/Université de Reims Champagne-Ardenne, Campus du Moulin de la Housse,France
3. CEA Le Ripault,France
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10290132/10289699/10290389.pdf?arnumber=10290389
Reference4 articles.
1. Electron transport properties in periodic systems (II)
2. Dielectric characterization at high temperature (1600°C) for space applications
3. Measurement of material permittivity under condition of high temperature based on open cavity technique in MMW wavelengths
4. Free space measurement setup for the electromagnetic characterization of materials under high temperatures;guelmami;PHAROS 2018,2018
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