1. 1) T. C. May, M. H. Woods: 16th Annual Proceedings of International Reliability Physics Symposium, p. 33 (1978).
2. 2) 本間中八郎, 黒沢 賢, 川島 泉, 山脇正隆, 田中尚武: 電子通信学会論文誌, J63-C, 653 (1980).
3. 3) 土井 紘, 槌本道子, 大野 稔: 電化, 53, 282 (1985).
4. 4) 鳥居一義: 第48回分析化学討論会講演要旨集, p. 303 (1987).
5. 5) 中村 靖: 半導体材料中のU, Thおよびα放射体の分析法に関する研究会要旨集, p. 12 (1987).