Author:
Brambilla N.,Eidelman S.,Heltsley B. K.,Vogt R.,Bodwin G. T.,Eichten E.,Frawley A. D.,Meyer A. B.,Mitchell R. E.,Papadimitriou V.,Petreczky P.,Petrov A. A.,Robbe P.,Vairo A.,Andronic A.,Arnaldi R.,Artoisenet P.,Bali G.,Bertolin A.,Bettoni D.,Brodzicka J.,Bruno G. E.,Caldwell A.,Catmore J.,Chang C.-H.,Chao K.-T.,Chudakov E.,Cortese P.,Crochet P.,Drutskoy A.,Ellwanger U.,Faccioli P.,Gabareen Mokhtar A.,Garcia i Tormo X.,Hanhart C.,Harris F. A.,Kaplan D. M.,Klein S. R.,Kowalski H.,Lansberg J.-P.,Levichev E.,Lombardo V.,Lourenço C.,Maltoni F.,Mocsy A.,Mussa R.,Navarra F. S.,Negrini M.,Nielsen M.,Olsen S. L.,Pakhlov P.,Pakhlova G.,Peters K.,Polosa A. D.,Qian W.,Qiu J.-W.,Rong G.,Sanchis-Lozano M. A.,Scomparin E.,Senger P.,Simon F.,Stracka S.,Sumino Y.,Voloshin M.,Weiss C.,Wöhri H. K.,Yuan C.-Z.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous)