AXS-RMC Analysis for Structural Characterization for Disordered Materials
Author:
Publisher
The Crystallographic Society of Japan
Subject
General Medicine
Reference28 articles.
1. 1) (e.g.) Y. Waseda: “The Structure of Non-Crystalline Materials”, McGraw-Hill, New York (1980).
2. 2) B. E. Warren and N. S. Gingrich: Phys. Rev. 46, 368 (1034).
3. 3) Y. Waseda: “Anomalous X-ray Scattering for Materials Characterization”, Springer-Verlag, Heidelberg (2002).
4. Diffraction Pattern and Structure of Noncrystalline BeF2 and SiO2 at 25°C
5. Structural Analysis of Disordered Materials by the Anomaolous X-ray Scattering (AXS) Method.
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