Detecting the Guttman effect with the help of ordinal correspondence analysis in synchrotron X-ray diffraction data analysis-Reference-Cited by-同舟云学术

Detecting the Guttman effect with the help of ordinal correspondence analysis in synchrotron X-ray diffraction data analysis

Published:2020-08-26 Issue:2 Volume:49 Page:291-316
ISSN:0266-4763
Container-title:Journal of Applied Statistics
language:en
Short-container-title:Journal of Applied Statistics

Author:

Manté C.¹,Cornu S.²,Borschneck D.²,Mocuta C.³,van den Bogaert R.²

Affiliation:

1. Université du Sud Toulon-Var, CNRS/INSU,IRD, Aix-Marseille Université, Marseille, France

2. CNRS, IRD, INRA, Coll France, CEREGE, Aix Marseille Université, Aix-en-Provence, France

3. Synchrotron SOLEIL, L'Orme des Merisiers, Saint-Aubin, Gif-sur-Yvette, France

Funder

French National Research Agency

Publisher

Informa UK Limited

Subject

Statistics, Probability and Uncertainty,Statistics and Probability

Link

https://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/02664763.2020.1810644

Reference56 articles.

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