Double correlation technique (DDLTS) for the analysis of deep level profiles in semiconductors

Author:

Lefèvre H.,Schulz M.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Materials Science,General Chemistry,General Engineering

Reference14 articles.

1. D.V.Lang: J. Appl. Phys.45, 3014, 3023 (1974)

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5. M.Schulz: Appl. Phys. Lett23, 31 (1973)

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