Author:
Bittner R.,Bain K.,Bansal V. K.,Berrevoet F.,Bingener-Casey J.,Chen D.,Chen J.,Chowbey P.,Dietz U. A.,de Beaux A.,Ferzli G.,Fortelny R.,Hoffmann H.,Iskander M.,Ji Z.,Jorgensen L. N.,Khullar R.,Kirchhoff P.,Köckerling F.,Kukleta J.,LeBlanc K.,Li J.,Lomanto D.,Mayer F.,Meytes V.,Misra M.,Morales-Conde S.,Niebuhr H.,Radvinsky D.,Ramshaw B.,Ranev D.,Reinpold W.,Sharma A.,Schrittwieser R.,Stechemesser B.,Sutedja B.,Tang J.,Warren J.,Weyhe D.,Wiegering A.,Woeste G.,Yao Q.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC