In situ characterization of MBE grown GaAs and Al x Ga1−x As films using RHEED, SIMS, and AES techniques

Author:

Ploog K.,Fischer A.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Materials Science,General Chemistry,General Engineering

Reference17 articles.

1. A. Y. Cho, J. R. Arthur Jr.: In:Progress in Solid State Chemistry, ed. by G. Somorjai and J. McCaldin (Pergamon Press, New York 1975) Vol. 10, p. 157

2. L. Esaki, R. Tsu: IBM J. Res. Develop.14, 61 (1970)

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5. A. Y. Cho, S. E. Stokowski: Solid State Commun.9, 565 (1971)

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