Sensor Technology for Scanning Probe Microscopy and New Applications
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Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/3-540-27453-7_6
Reference227 articles.
1. Binnig G, Rohrer H, Gerber C, Weibel E (1981) Appl Phys Lett 40:178–180
2. Binnig G, Rohrer H (1982) Helv Phys Acta 55:726
3. Binnig G, Rohrer H, Gerber C, Weibel E (1982) Phys Rev Lett 49:57–61
4. Binnig G, Quate CF, Gerber C (1986) Phys Rev Lett 56:930–933
5. Wiesendanger R (1994) Scanning probe microscopy and spectroscopy. Cambridge University Press, Cambridge
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1. Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections;Applied Scanning Probe Methods V;2007
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