Time-of-Flight Scattering and Recoiling Spectrometry (TOF-SARS) for Surface Analysis
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Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-642-75762-4_10.pdf
Reference96 articles.
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Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Advanced surface analysis of silicate glasses, oxides and other insulating materials: a review;Journal of Non-Crystalline Solids;1997-01
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