1. G.E. Moore, Electronics 38, 8 (1965).
2. E.J. Nowak, J. Res. Dev. 46, 169 (2002).
3. J. Mody, A.K. Kambham, G. Zschatzsch, P. Schatzer, T. Chiarella, N. Collaert, L. Witters, M. Jurczak, N. Horiguchi, M. Gilbert, P. Eyben, S. Kolling, A. Schulze, T. Hoffmann, and W. Vandervorst, 2010 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), p. 195 (2010).
4. S. Thompson, N. Anand, M. Armstrong, C. Auth, B. Arcot, M. Alavi, P. Bai, J. Bielefeld, R. Bigwood, J. Brandenburg, M. Buehler, S. Cea, V. Chikarmane, C. Choi, R. Frankovic, T. Ghani, G. Glass, W. Han, T. Hoffmann, M. Hussein, P. Jacob, A. Jain, C. Jan, S. Joshi, C. Kenyon, J. Klaus, S. Klopcic, J. Luce, Z. Ma, B. Mcintyre, K. Mistry, A. Murthy, P. Nguyen, H. Pearson, T. Sandford, R. Schweinfurth, R. Shaheed, S. Sivakumar, M. Taylor, B. Tufts, C. Wallace, P. Wang, C. Weber, and M. Bohr, IEDM Technical Digest, p. 61 (2002).
5. K. Mistry, C. Allen, B. Besttie, D. Bergstrom, M. Bost, M. Brazier, A. Cappellani, R. Chau, C.-H. Choi, G. Ding, K. Fischer, T. Ghani, R. Grover, W. Han, M. Hanke Hattendorf, J. He, J. Hicks, R. Huessner, D. Ingerly, P. Jain, R. James, L. Jong, S. Joshi, C. Kenyon, K. Kuhn, K. Lee, H. Liu, J. Maiz, B. McIntyre, P. Moon, J. Neirynck, S. Pae, D. Park Parsons, C. Prasad, L. Pipes, M. Prince, P. Ranade, T. Reynolds, J. Sandford, L. Shifren, J. Sebastian, J. Seiple, D. Simon, S. Sivakumar, P. Smith, C. Thomas, T. Troeger, P. Vandervoc, S. Williams, and K. Zawadzki, IEDM Technical Digest, p. 247 (2007).