Author:
Beske H. E.,Holzbrecher H.,Radermacher L.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Reference6 articles.
1. H. A. Storms, K. F. Brown, and J. D. Stein, Analyt. Chemistry49, 2023 (1977).
2. C. A. Andersen, Int. J. Mass. Spectrom. Ion Phys.3, 413 (1977).
3. V. E. Krohn, J. Appl. Phys.33, 3523 (1962).
4. F. Halliday and J. D. Stein, AD-AO-38 409 (1976).
5. C. E. Johnson, private communication, 1979.
Cited by
2 articles.
订阅此论文施引文献
订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie (SIMS);Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie;1986
2. Investigation of surface reactions of metals by quantitative distribution analysis with SIMS;Fresenius' Zeitschrift f�r Analytische Chemie;1984-06