Optical Surface Metrology: Methods
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Springer International Publishing
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-030-29454-0_5
Reference211 articles.
1. Molesini, G., Pedrini, G., Poggi, P., Quercioli, F.: Focus-wavelength encoded profilometer. Opt. Commun. 49, 229–233 (1984)
2. Browne, M.A., Akinyemi, O., Boyde, A.: Confocal surface profiling utilizing chromatic aberration. Scanning. 14, 145–153 (1992)
3. Tiziani, H.J., Uhde, H.M.: Three dimensional imaging sensing by chromatic confocal microscopy. Appl. Opt. 33, 1838–1843 (1994)
4. Jordan, M., Wegner, M., Tiziani, H.J.: Highly accurate non-contact characterization of engineering surfaces using confocal microscopy. Meas. Sci. Technol. 9, 1142–1151 (1998)
5. Papastathopoulos, E., Koerner, K., Osten, W.: Chromatic confocal spectral interferometry. Appl. Opt. 45(32), 8244–8252 (2006)
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